Статистические методы в микроэлектронике
Каждый файл представляет собой самораспаковывающийся архив текстового файла формата MSWord.
----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------
Богданов Ю.И., Богданова Н.А. Бутстреп, структура данных и управление технологическими процессами в микроэлектронике. // Микроэлектроника. 1997 г. т.26. №3. С. 183-187.
----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------
Богданов Ю.И., Романов А.А. О выявлении скрытых технологических факторов на основе минимизации энтропии. // Микроэлектроника. 1997. Т.26. №3. С.176-182.
----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------
Богданов Ю.И. и др. ОСТ 1114.1011-99 Стандарт отрасли. Микросхемы интегральные. Система и методы статистического контроля и регулирования технологического процесса. М. 1999. ЦНИИ 22. 78 с.
----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------
Богданов Ю.И., Минаев В.В., Руднев А.В. Прогнозирование выхода годных и контроль технологических потерь в полупроводниковом производстве. // Известия вузов. Сер. Электроника. 2001. №3. с.52-57.
----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------
Богданов Ю.И. Анализ вариаций и построение контрольных карт в микроэлектронике // Микроэлектроника. 1995. Т.24. №6. С.435-446.
----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------
Чтобы загрузить файл нажмите на ссылку и выберите директорию на Вашем компьютере где Вы хотите сохранить файл.